Быстрые электрические переходные процессы (БЭСП)/всплески, часто наблюдаемые в электрических системах и оборудовании, обычно представляют собой высокочастотные импульсы, вызванные искрением. Эти искры возникают во время подключения или отключения цепи от источника питания, работы коммутационного оборудования или при соприкосновении линий.
Симуляторы EFT/импульсов используются для оценки производительности электрических и электронных устройств.
порты электропитания оборудования, сигнальные, управляющие и заземляющие порты при воздействии быстрых переходных электрических импульсных помех.
МЭК 61000-4-4 находится подЭлектромагнитная совместимость (ЭМС)директива и предназначена для проверки быстрых переходных процессов и импульсных событий в электронных системах.
Предпочтительные уровни испытаний для испытания на быстрые электрические переходные процессы, применимые к питанию, управлению,
Сигнальные и заземляющие порты оборудования указаны ниже:
Упрощенная принципиальная схема генератора имеет следующий вид:
Длительность/период импульса. Стандарт определяет тестирование на частоте 5 кГц и 100 кГц каждые 300 мс.
Тестирование EFT может проводиться на обоихИсточник питания переменного и постоянного токалинии, сигнал, земля и порты управления.Тестовая установка EFT состоит из следующих элементов:
1) Тестовый генератор
2) Сеть связи/развязки (CDN)
3) Испытуемое оборудование (ИО)
4) Базовая плоскость заземления (GRP)
5) Изолирующая опора
6) Заземляющий кабель
Для тестирования портов питания переменного/постоянного тока требуется CDN. А для тестирования портов сигнала, данных, управления или ввода/вывода требуется емкостный зажим связи.
Серия EMCSOSIN EFT S/T — это современные тестеры EFT/Burst со встроенной сетью связи/развязки для однофазной или трехфазной линии электропитания и высоковольтным терминалом для подключения емкостного зажима связи. Характеристики оборудования полностью соответствуют стандарту IEC/EN 61000-4-4.
Не стесняйтесь обращаться к нам, если вам нужна дополнительная информация о системе тестирования EFT.
